EEM View
분광형광 현미경 – EEM® View –
시료의 스펙트럼 측정 및 관찰을 동시에 구현한 새로운 개념의 시스템입니다. 관찰 화상으로부터 AI 기술을 응용한 해석 알고리즘에 의해 형광 화상과 반사 화상으로 분리 표시하는 것과 동시에, 화상으로부터 구획 별로 스펙트럼화 (형광 스펙트럼 및 반사 스펙트럼)가 가능 합니다.
사진은 F-7100 형 형광 광도계의 구성 예
EEM View 라는 것은
형광 및 반사 화상의 스펙트럼을 동시에 취득할 수 있는 신기술입니다.
시료의 스펙트럼 데이터 (분광 및 형광 특성)를 측정
각 조명 조건 (백색광 및 단색광)에 따라 화상을 촬영
(영역: Φ 20 mm, 파장 범위: 380-700 nm)AI 기술을 응용한 해석 알고리즘＊1 에 의한 형광 화상과 반사 화상의 분리 보기
화상으로부터 구획 별로 스펙트럼 화 ＊1 (형광 스펙트럼 및 반사 스펙트럼)가 가능
분광형광 현미경의 개요
적분구를 채용한 균일 조명 시스템
시료의 형광/반사 화상 및 스펙트럼을 동시에!
적분구로 조명을 확산화
그늘 없는 조명으로 시료를 균일 조사
형광분광기와 CMOS 카메라의 듀얼 검출
분광형광 현미경은 F-7100 형 형광광도계의 시료실 안에 장착 가능한 옵션입니다. 적분구로 입사광을 조사하여 균일한 조명 조건에서 시료를 관찰할 수 있습니다. 기존의 형광 쪽 분광기로 형광 스펙트럼을 얻고, 적분구 아래쪽 CMOS 카메라 장치에서 화상을 동시에 취득 합니다.
쉬운 설치, 다양한 시료의 설치에 대응!
시료는 적분구의 위쪽에 간단 설치!
판상 시료: 석영창에 끼워 시료를 설치합니다.
분말 시료: 분말 시료용 용기에 분말을 넣어, 시료를 설치 합니다. 또한 다른 옵션인 고체 시료 홀더에 동봉된 분말 셀의 사용도 가능 합니다.
보정 검사를 위한 형광 표준 샘플이 포함 되어 있습니다.
제공된 표준 백판 (100%)와 브랭크 판 (0%)을 이용하여 보정을 수행 합니다. 형광 강도 및 반사율의 교정, 그리고 화상에 따른 면 내의 휘도 분포의 보정에 사용 됩니다.
측정 예
【응용 예】 미세 구조 소재의 형광 특성 및 구조 확인
가시성을 향상 시키기 위해 미세 구조가 있는 형광 반사 시트를 측정 했습니다.
스펙트럼 데이터와 화상의 동시 취득
시료에 입사 광선으로 360 nm ~ 700 nm및 백색광을 조사 합니다. 이 때, 각 조명 조건에 따라 화상을 취득함과 동시에, 형광 쪽 분광기로 형광 스펙트럼을 취득합니다. 측정 후에는 3 차원 형광 스펙트럼 (여기 파장, 형광 파장, 형광 강도)이 표시 됩니다. 전용 해석 소프트웨어에서는 화상의 확대 보기 및 구획 별 형광/반사 스펙트럼의 보기가 가능합니다. 면 내에서 불균일은 시료의 반사 및 형광 분포를 화상 및 스펙트럼으로 간주될 수 있습니다.
구획 별 스펙트럼 계산, 보기 (형광/반사)
분리 화상 보기 (형광/반사)
취득 화상의 반사광 성분 화상과 형광 성분 화상을 분리
화상 분리 알고리즘에 의해 촬영 한 화상을 반사광 성분과 형광 성분으로 분리 했습니다. 그 결과, 반사 성분이 주황색이며 형광 성분은 녹색의 화상이었습니다. 각각의 반사 스펙트럼 및 형광 스펙트럼에 상당하는 분광색과 일치하고 있습니다. 본 시료는 주황색의 반사광과 녹색의 형광이 합해져 노란색으로 보이는 것 같습니다. 또한, 반사 화상과 형광 화상에서는 면 내의 광학 특성 (화상 패턴)이 다르다는 것을 확인할 수 있었습니다. 화상을 확대 하면 반사판 미세 구조가 약 200 μ m 주기로 있다는 것을 알 수 있습니다.