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자외 가시 근적외 분광 광도계 UH4150
자외 가시 근적외 분광 광도계 UH4150
고체 분광 측정의 전문가, U-4100형이 더욱 진화하였습니다.
총 출하 대수 1,500대 이상*1의 실적을 자랑하는 히타치 분광 광도계 U-4100형의 신뢰성은 그대로, UH4150형이 여기에 탄생했습니다
검출기 변환 단차가 적어 변환 부근의 파장이라도 보다 정확한 측정이 가능
검출기 변환 단차가 적어 변환 부근의 파장이라도 보다 정확한 측정이 가능
자외 가시 영역~근적외 영역에 걸친 광범위한 측정 파장에 대응하기 위해 적분구에 복수의 검지기를 탑재하고 있습니다.
UH4150형은 원래 길러 온 적분구 구조의 노하우와 신호 처리 기술 등에 의해 검출기 변환 시 발생하는 측광값의 차(변환 단차)를 최소한으로 줄이고 있습니다.
검지기 변환 파장 부근의 측정 예
(금 나노로드의 흡수 스펙트럼)
자신감 있는 프리즘 그레이팅 더블 단색화장치에 의해 저미광 저편광 특성을 양립
자신감 있는 프리즘 그레이팅 더블 단색화장치에 의해 저미광 저편광 특성을 양립
UH4150형은 U-4100형의 정평 있는 광학계를 계승하여 프리즘-그레이팅(PG)의 더블 모노크로 방식을 도입하고 있습니다. 프리즘그레이팅(PG) 방식은 일반적인 그레이팅그레이팅(GG) 방식의 분광 광도계에 비해 S편광 및 P편광에서 광량의 급격한 변화가 적기 때문에 저투과・반사 측정에서도 노이즈가 적은 측정을 제공합니다.
평행 광속에 의해 반사광이나 산란광도 보다 정확하게 측정 가능
평행 광속에 의해 반사광이나 산란광도 보다 정확하게 측정 가능
고체 시료의 정반사를 측정하는 경우에는 입사각이 중요합니다. 집광 광속의 경우, 렌즈의 초점 거리 등에 의해 입사각이 동일하지는 않습니다. 이러면 유전체 다층막이나 프리즘 등의 광학 박막 설계를 했을 때의 시뮬레이션값과 실제 측정값의 차이가 발생하는 요인이 될 수도 있습니다.
평행 광선속의 경우에는 입사각은 시료에 대해 동일하여 정밀도가 높은 정반사 측정이 가능합니다. 그 밖에, 평행 광속은 확산성 평가(헤이즈)와 렌즈 투과율 측정에도 효과적입니다.
정반사 측정의 예
다양한 검지기를 구비, 목적에 맞는 검지기의 선택이 가능
다양한 검지기를 구비, 목적에 맞는 검지기의 선택이 가능
재질, 크기, 형상이 다른 8종류의 적분구를 구비하고 있습니다*2.
부속 장치에 대한 자세한 사항은 문의하시기 바랍니다.
검지기 종류
인체공학에 기초한 새로운 디자인을 도입
인체공학에 기초한 새로운 디자인을 도입
시료실 개폐 덮개의 개량과 더불어 작업성 향상을 꾀했습니다.
시료나 부속 장치의 교환 등을 가상하여 인간공학에 기초한 디자인을 도입했습니다.
U-4100형에 익숙해진 고객의 다양한 요구에 대응하는 부속 장치가 사용 가능
U-4100형에 익숙해진 고객의 다양한 요구에 대응하는 부속 장치가 사용 가능
U-4100형 부속 장치와의 공통화를 꾀했습니다.
종전에 이용하던 부속 장치를 UH4150형에서도 사용할 수 있습니다*3. 부속 장치는 착탈・교환이 가능하기 때문에 측정 종류를 다양화할 수 있습니다.
U-4100형에 비해 보다 높은 스루풋화를 달성
U-4100형에 비해 보다 높은 스루풋화를 달성
정평 있는 U-4100형 광학계를 그대로 사용하여 보다 높은 스루풋 측정이 가능해졌습니다. 종전에 1 nm의 데이터 간격으로 측정하기 위해서는 스캔 속도를 600 nm/min로 설정해야 했습니다.
UH4150형에서는 데이터 읽기 방식을 개량하여 기존의 두 배인 1,200 nm/min으로 동일한 데이터 취득이 가능해져 측정 시간 단축을 실현했습니다*4.
아래 그림에 나타내는 240~2,600 nm 범위의 측정이 약 2분이면 가능합니다. 자외・가시・근적외 영역의 측정을 필요로 하는 차열 부재의 측정 등에 효과적입니다.
600 nm/min에서의 차열 부재의 반사 스펙트럼
1,200 nm/min에서의 차열 부재의 반사 스펙트럼
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